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本发明涉及一种用于特征化材料的性质的方法，其特征在于，其包含下列步骤：-提供介于X射线光源(1)及侦测器之间的此材料的至少一个样本(100)，-使用所述X射线光源(1)使N个X射线放射光谱透射穿过所述材料，每一个达时间Δt，-计算此材料的透...
该专利属于法国原子能与替代能委员会所有，仅供学习研究参考，未经过法国原子能与替代能委员会授权不得商用。

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