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本发明涉及集成电路，公开了一种片上系统中的温度系数校正方法及片上系统。本发明中，利用芯片高功耗工作模式下比低功耗模式下温度相对升高这个基本现象，在每一次从低功耗模式转换到高功耗模式后，根据模式转换前的弛张振荡器的输出频率和模式转换后的弛张振...
该专利属于上海炬力集成电路设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海炬力集成电路设计有限公司授权不得商用。

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