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本实用新型涉及一种芯片测试机结构，尤其是一种芯片测试机上的键盘盒结构。包括一底部框架，在底部框架上设有键盘盒和显示器，所述的键盘盒底部设有一旋转板，所述的显示器通过一旋转支架安装于底部框架上部，所述的旋转板外侧底部设有一升降块与底部框架上部...
该专利属于金英杰所有，仅供学习研究参考，未经过金英杰授权不得商用。

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