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本发明提供一种超材料单元结构电磁特性测量方法，其中单元结构由一组几何参数来定义，方法包括以下步骤：S1：预设几何参数的数值范围；S2：在预设的数值范围内，选择多个试验点，每个试验点包括一组几何参数；S3：获取各个试验点对应单元结构的电磁响应...该专利属于深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司授权不得商用。