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一种SAM加权KEST高光谱异常检测算法制造技术
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文档序号:7759927
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本发明公开了一种SAM加权KEST高光谱异常检测算法(SKEST)。首先,推导SKEST算法;其次采用双矩形窗口,对高光谱图像中每个像元计算其SKEST值,进行阈值分割,检测出异常点。SKEST算法在基于核的特征空间分离变换算法(KEST)...
该专利属于南京理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京理工大学授权不得商用。
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