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本发明涉及三维形貌痕迹比对测量仪的投影装置，包括基座（1）及云台（5），基座上面设有立柱（2），立柱连接摄像机支架（3a），摄像机支架（3a）中连接有摄像机（3）及投影仪（4），其特征在于：摄像机支架（3a）上连接五维调节装置（7），投影仪...该专利属于安徽国盾三维高科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安徽国盾三维高科技有限公司授权不得商用。
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