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本实用新型公开了一种X波段环行器测试装置，包括有校准件、测试件；校准件包括有底座、基板、两个SMA接头，两个SMA接头分别固定于底座底座上表面的两端处，基板固定在底座的上表面，基板上表面具有微带线；测试件包括有底座、三块基板、三个SMA接头...
该专利属于安徽华东光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过安徽华东光电技术研究所授权不得商用。

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