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一种用于二维光程分布的绝对测量的装置，包括：光源(4)，用于以具有多个波长的光照明物体(26)；干涉仪(12)，用于形成物体的至少一部分的图像，该图像包括宽带干涉图；高光谱成像器(30)，与干涉仪光学连接，用于将宽带干涉图光谱地分成多个窄带...
该专利属于拉夫伯勒大学所有，仅供学习研究参考，未经过拉夫伯勒大学授权不得商用。

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