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本发明涉及一种用于测量熔融物质中的参数的测量装置，该测量装置尤其用于测量温度，尤其用于测量具有500℃以上的熔点的熔融金属或者熔融晶体(冰晶石)物质中的温度，所述装置具有从熔融物质中接收辐射的光纤并具有包括用于接纳所述光纤的外周部和由所述外...
该专利属于贺利氏电子耐特国际股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过贺利氏电子耐特国际股份公司授权不得商用。

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