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本发明涉及无损检测领域，尤其涉及一种用于检测材质为40Cr的回转支承淬透层的涡流检测探头，包括绕组单元（2）和封装绕组单元的外壳（3）；所述绕组单元（2）包括磁芯（2-1），绕在磁芯（2-1）上检测线圈（2-2）和绕在检测线圈（2-2）上的...
该专利属于常州机电职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过常州机电职业技术学院授权不得商用。

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