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本实用新型公开了一种轴向半导体器热阻测试接口，包括绝缘底座（1），其特征在于：在绝缘底座（1）上设有开尔文测试夹具（2），在开尔文测试夹具（2）上连接有4个电极（3），在每个电极（3）上分别连接有一个散热片（4）及一根检测电缆（5）；在绝缘...
该专利属于中国振华集团永光电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国振华集团永光电子有限公司授权不得商用。

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