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用于通过低频频谱确定样本特征的系统和方法技术方案
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下载用于通过低频频谱确定样本特征的系统和方法的技术资料
文档序号:7632046
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用于判断产生分子旋转的样本(200)的方法和装置。把样本放入具有磁屏蔽罩和电磁屏蔽罩的容器(50),向样本加入高斯噪声。检测到含有叠加了加入的高斯噪声的样本源辐射的电磁时域信号,将该信号与由同一样本产生的第二时域信号进行互相关运算,求出带有...
该专利属于纳特维斯公司所有,仅供学习研究参考,未经过纳特维斯公司授权不得商用。
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