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用于执行TD-SCDMA测量的TDD-LTE测量间隙制造技术
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下载用于执行TD-SCDMA测量的TDD-LTE测量间隙的技术资料
文档序号:7529340
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本公开内容的某些方面提出了增强用于TD-SCDMA测量的测量间隙的技术。某些方面提供了一种方法,该方法大体上包括:接收来自应用第一无线接入技术(RAT)的基站(BS)的消息,该消息指示测量间隙,在测量间隙中用户设备(UE)在第二RAT中进行...
该专利属于高通股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过高通股份有限公司授权不得商用。
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