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本发明涉及一种利用稳态对比测量不良导体导热系数的方法，首先测量不良导体标准样品的导热系数，然后再将待测样品的形状、大小和厚度制成与不良导体标准样品相同，然后检测导热稳定时待测样品两侧的温度，结合不良导体标准样品的导热系数得到该待测样品的导热...
该专利属于上海交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海交通大学授权不得商用。

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