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本发明公开了一种基于缺陷地结构的微带延迟线，包括微带延迟线结构，该结构包括介质板，所述介质板的正面为任意结构的左手延迟线或左右手复合结构延迟线，所述介质板的背面为去掉了部分本体的金属面，去掉的部分与正面延迟线相匹配构成的缺陷地结构等效于并联...
该专利属于中国电子科技集团公司第二十六研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第二十六研究所授权不得商用。

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