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本发明涉及一种集成电路功能测试装置及其测试方法。该装置电路部分主要由电源控制开关、信号控制开关、双连拨动开关、分压器，电位器、电阻器、调节器、组成。当加入电源电压时，分压电路输出电压为一定值，传送到集成电路输入端，通过调节W1电位器，调节W...
该专利属于尤冬生所有，仅供学习研究参考，未经过尤冬生授权不得商用。

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