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本发明公开了一种基于阴阳离散点采样模型的图像分析方法，首先，根据图像中待检测目标的类型、尺寸及噪声干扰程度选择采样算子、采样半径及邻域灰度均匀度评判阈值，然后再利用上述采样算子、采样半径及邻域灰度均匀度评判阈值对图像进行采样计算，得到相应的...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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