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本发明涉及通过阻抗谱更精确地表征电系统的特性的方法。所述方法包括：对所述电系统施加包括正弦扰动的序列的输入信号，以扫描频率的源系列(A)；响应于针对所施加的各个扰动的所述输入信号，测量所述电系统的输出信号；以及针对各个所施加的扰动、估计所述...该专利属于赫利恩公司;图卢兹国立综合科技研究院;国家科研中心;V·普利波托所有，仅供学习研究参考，未经过赫利恩公司;图卢兹国立综合科技研究院;国家科研中心;V·普利波托授权不得商用。