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本发明公开了一种近载频相位噪声测量准确度的校准装置，包括：参考源（1）、待测源（9）、相位噪声测量装置（10），还包括：合路器A（2）、移相器（3）、衰减器A（4）、混频器（5）、有色噪声源（6）、衰减器B（7）、合路器B（8）。通过组建有...该专利属于中国航天科工集团第二研究院二〇三所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航天科工集团第二研究院二〇三所授权不得商用。
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本发明公开了一种近载频相位噪声测量准确度的校准装置，包括：参考源（1）、待测源（9）、相位噪声测量装置（10），还包括：合路器A（2）、移相器（3）、衰减器A（4）、混频器（5）、有色噪声源（6）、衰减器B（7）、合路器B（8）。通过组建有...