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本发明提供了一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统，以准确测试半导体激光器偏振度及其偏振模式。本发明的方案是：半导体激光器发出的光束经压缩汇聚后入射至偏振分光器件，按照偏振态分光形成透射光和反射光，分别读取透射光功率Pmax和反射光功率P...
该专利属于西安炬光科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安炬光科技有限公司授权不得商用。

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