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一种用于对由测试装置TD对安全芯片SC的访问进行认证的方法，测试装置存储至少一个公共密钥CK和一个测试密钥TK，安全芯片SC存储相同的公共密钥CK和通过对测试密钥TK应用密码函数而得到的参考摘要F(TK)，该方法包括下述步骤：-由测试装置T...
该专利属于纳格拉影像股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过纳格拉影像股份有限公司授权不得商用。

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