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文档序号:7193971
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本发明涉及一种氧浓度为5×1017-7.5×1017cm-3的硅片,所述硅片在二选一进行以下热过程之后具有以下BMD密度:-在780℃下处理3小时并随后在1000℃下处理16小时之后,BMD密度为至多1×108cm-3;和-在以1K/min...
该专利属于硅电子股份公司所有,仅供学习研究参考,未经过硅电子股份公司授权不得商用。
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