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用于根据样品的元素成分和／或能量分辨要求修改Ｘ射线探测器（１１４）的成形时间和／或其它脉冲处理参数的方法和设备。来自源（１０２）的Ｘ射线（１０４）被引导至样品（１１０）上而作为响应从样品（例如样品元素成分的发荧光照射特性）发出辐射（１０８）...该专利属于特莫尼托恩分析仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过特莫尼托恩分析仪器股份有限公司授权不得商用。
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用于根据样品的元素成分和／或能量分辨要求修改Ｘ射线探测器（１１４）的成形时间和／或其它脉冲处理参数的方法和设备。来自源（１０２）的Ｘ射线（１０４）被引导至样品（１１０）上而作为响应从样品（例如样品元素成分的发荧光照射特性）发出辐射（１０８）...