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本发明提供一种使用了磁场分析模拟装置的电感元件的直流叠加特性的分析方法，其分析方法具有：第一工序，对于由与电感元件相同的磁性材料构成的环形铁心，求取从初磁化状态到饱和磁化为止的初磁化曲线及动作点不同的多个子环路，且从各动作点的增量导磁率获得...
该专利属于日立金属株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日立金属株式会社授权不得商用。

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