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本发明涉及一种用于确定分析物（１００）中带电颗粒浓度的方法，所述方法包括以下步骤：ｉ）确定表面电势对界面温度曲线（ｃ１、ｃ２、ｃ３、ｃ４）的至少两个测量点，其中从所述第一离子敏感电介质（Ｆｓｄ）和分析物（１００）之间的第一界面和第二离子敏感...
该专利属于ＮＸＰ股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过ＮＸＰ股份有限公司授权不得商用。

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