下载轮廓测量系统的校准的技术资料

文档序号:7145475

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一种用于校准测量系统的方法,该系统包括被构成的光源、光学装置和传感器。该光源适合于产生光的平面或片,而该光学装置被定位在该光平面和该传感器之间。该方法被执行以便获得从传感器到光平面的映射。在该方法中,光源被接通,以便使该光平面被产生。为了计...
该专利属于西克IVP股份公司所有,仅供学习研究参考,未经过西克IVP股份公司授权不得商用。

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