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用于优化接触式坐标定位装置的测量周期的方法制造方法及图纸
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下载用于优化接触式坐标定位装置的测量周期的方法的技术资料
文档序号:7127324
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本发明描述了一种用于计算由包括测量探针(4)的坐标定位装置获取的表面位置测量的最优基准距(74)的方法。所述坐标定位装置可包括机床,所述测量探针(4)可包括具有可挠变触针(12)的接触式触发探针。所述方法包括利用测得的所述坐标定位装置的至少...
该专利属于瑞尼斯豪公司所有,仅供学习研究参考,未经过瑞尼斯豪公司授权不得商用。
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