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本发明涉及一种用于测量介质的温度的方法，其中，该介质和至少一个加热装置接触，并且加热装置具有至少一个PTC元件。在本方法中检测在加热装置运行期间表示PTC元件上的电流、和/或电压、和/或电阻特征的至少一个参数。从与时间有关的电导值中形成至少...
该专利属于W.克伦克;M.蔡诺伊克斯;D.胡米尼克所有，仅供学习研究参考，未经过W.克伦克;M.蔡诺伊克斯;D.胡米尼克授权不得商用。

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