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本发明提供一种晶片式LED检查装置，其是一种能够正确的检出晶片式LED(CHIP?LED)密封树脂部所存在的缺损的检查装置。本检查装置包括支撑晶片式LED的透明板状或薄板状支撑部材，配设在支撑部材上方进行拍摄晶片式LED表面侧图像的相机，设...
该专利属于第一实业视检系统股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过第一实业视检系统股份有限公司授权不得商用。

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