温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了基于电子对效应检测材料缺陷的方法及系统。该方法包括以下步骤：提供能与被检测材料发生电子对效应的低能X射线；用所述低能X射线照射所述被检测材料，通过电子对效应在所述被检测材料内产生正电子；利用γ射线探测器测量由于所述正电子的湮没而...
该专利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司;清华大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。