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本发明公开了一种利用光中子透射对物体成像的方法，包括步骤：使用中子准直器准直穿过物体的光中子射线以根据该中子准直线的位置确定光中子射线的位置信息；使用探测器模块探测被准直的光中子射线束，其中，探测器模块包括中子慢化体和位于该中子慢化体内部的...
该专利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司;清华大学授权不得商用。

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