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本发明公开了一种X-射线荧光光谱法测定熔敷金属化学成分的方法，包括以下步骤：1）绘制工作曲线；2）熔敷金属试样的制备；3）熔敷金属试样中元素含量的测定。本发明具有分析速度快、操作简单、测量数据准确度高的特点，该方法的应用拓宽了荧光分析的应用...
该专利属于武汉铁锚焊接材料股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉铁锚焊接材料股份有限公司授权不得商用。

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