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本文提供了荧光强度校正方法、荧光强度计算方法及计算装置。更具体地，提供了一种荧光强度计算装置，包括：测量部，该测量部被构造成通过光检测器接收由通过对用多个荧光染料多重标记的微粒照射光而激发的多个荧光染料产生的荧光，然后通过从光检测器收集检测...
该专利属于索尼公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼公司授权不得商用。

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