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本发明提供一种非破坏式的平膜检查方法，其中，该平膜检查方法具有完全性试验工序，在该完全性试验工序中，通过利用除贵金属以外的微粒的直接法，来确认具有2个以上孔的所述平膜利用孔扩散方式将颗粒除去的能力未降低，以便能够再利用将溶液中特定的分散物分...
该专利属于真锅征一所有，仅供学习研究参考，未经过真锅征一授权不得商用。

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