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一种多通道干涉仪制造技术
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文档序号:6810089
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本实用新型涉及一种用于激光等离子体光学诊断的干涉仪,尤其是一种多通道干涉仪。用背光法或干涉法测密度及用法拉第旋转效应测磁场目前已广泛应用于激光等离子体和磁性材料的探测研究中。一般采用超快探针光照射待测物体,通过分光技术可以多通道测量待测样品...
该专利属于中国科学院国家天文台所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院国家天文台授权不得商用。
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