温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种有机发光显示器的面板缺陷测量尺，用于有机发光显示器的面板缺陷测量，该有机发光显示器的面板缺陷测量尺的尺面上标示有有机发光显示器面板的缺陷图样，上述缺陷图样包括七种，分别用于测量切割后的基片玻璃棱角处缺陷、切割后的后盖玻璃棱角...
该专利属于东莞宏威数码机械有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞宏威数码机械有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。