专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
天津理工大学
>
一种具有较大带隙的氮铟镓薄膜及其制备方法技术
>技术资料下载
下载一种具有较大带隙的氮铟镓薄膜及其制备方法的技术资料
文档序号:6648636
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种具有较大带隙的氮铟镓薄膜,其化学分子式为InxGa1-xN,式中x为0.05~0.3,该氮铟镓薄膜,由衬底和该衬底表面形成的一层氮铟镓薄膜构成,所述氮铟镓薄膜的厚度为0.6-1.5?m;其制备方法是:首先在MOCVD沉积系统的进样室中,...
该专利属于天津理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过天津理工大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。