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本发明涉及一种用于测试集成电路的过程，其包括：在所述集成电路执行乘法时收集物理特性的点集；将所述点集划分成横向点的多个子集；为每个子集计算所述物理特性的值的估计；以及通过使用所述物理特性的值的估计，将水平截断统计处理的步骤应用到所述横向点的...
该专利属于英赛瑟库尔公司所有，仅供学习研究参考，未经过英赛瑟库尔公司授权不得商用。

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