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一种光学元件尺寸的检测装置，其包括：多个间隔设置的筛板与多个刮板，每个筛板中形成有多个通孔，每个刮板滑动安装于一相应的筛板，用于沿筛板表面滑动使放置在该筛板上的光学元件通过该筛板内的通孔而到达下一筛板上，该筛板中的通孔的孔径大于所述下一筛板...该专利属于鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司授权不得商用。