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本发明公开了一种基于FPGA的集成电路测试系统，以及利用该测试系统对带有数字模块或者以数字模块为主、带有少量模拟模块的数模混合集成电路芯片进行测试的方法。本发明系统主要包括PC机、主控芯片、FPGA芯片、配置信息存储设备、测试向量存储设备；...
该专利属于建荣集成电路科技（珠海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过建荣集成电路科技（珠海）有限公司授权不得商用。

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