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高频率高比压大行程可温控往复摩擦测试装置制造方法及图纸
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文档序号:6504420
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本发明公开了一种高频率高比压大行程可温控往复摩擦测试装置,其特征是设置被测单元中包括分体设置的上测试件和下测试件,下测试件支撑在滚珠上,上测试件与传压件呈倒“T”形设置;位于上测试件和下测试件之间的配偶试件是与上测试件和下测试件为面接触;往...
该专利属于合肥工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过合肥工业大学授权不得商用。
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