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本发明涉及一种用于检验对象（１）的材料缺陷的装置和方法。在此使用多发射极Ｘ射线源（８）、至少一个探测器（６）和用于控制所述多发射极Ｘ射线源的发射极（１２，１２′）的控制系统（１０）。按照至少一个有关检验的对象（１）的信息选择性地激活或控制各...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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