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本实用新型公开了一种测试头结构，包括导电的第一测试头和与所述第一测试头相对设置的导电的第二测试头，所述第一测试头包括板状基部和从所述板状基部上延伸出来的细长臂，所述细长臂的延伸方向与所述板状基部设定的触压方向形成锐角。克服了传统的元器件测试...
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