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用于带电粒子探测的系统、装置、计算机程序产品和方法包括带电粒子层析数据的物体体积散射密度剖面的统计重建,以使用统计多重散射模型确定带电粒子散射的概率分布,并使用期望最大化(ML/EM)算法确定物体体积散射密度的实质最大似然性估计,以重建物体...该专利属于洛斯阿拉莫斯国家安全股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过洛斯阿拉莫斯国家安全股份有限公司授权不得商用。
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