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为了校准坐标测量装置,提供具有已知特性的参考测量对象。记录所述参考测量对象上的多个参考测量值。基于所述参考测量值且基于所述参考测量对象的所述已知特性,确定校准数据,其中所述校准数据包括第一数目的多项式系数,所述第一数目的多项式系数被设计为基...该专利属于卡尔蔡司工业测量技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过卡尔蔡司工业测量技术有限公司授权不得商用。
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