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本发明提供一种连接有外部设备（１０）的嵌入式系统中的自动再现测试装置，包括：历史存贮单元（信息存贮部２０），该历史存贮单元将嵌入式系统的操作事件、以及包括外部设备的状态变化的事件按照时间序列存贮；以及再现测试单元（再现测试装置２），该再现测...
该专利属于三菱电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三菱电机株式会社授权不得商用。

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