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一种操作扫描探针显微镜（ＳＰＭ）（１０）的方法，包括在所述ＳＰＭ（１０）的探针（１４）与样品（２２）相互作用时扫描所述样品（２２），以及收集响应于所述扫描步骤（３６）的样品表面数据。所述方法从所述样品表面数据识别（３８）所述样品（２２）的特...
该专利属于威科仪器公司所有，仅供学习研究参考，未经过威科仪器公司授权不得商用。

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