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本发明涉及一种液态金属离子源、二次质谱仪以及相应的分析方法及其应用。特别涉及根据所述温和ＳＩＭＳ（Ｇ－ＳＩＭＳ）方法的质谱方法。为此目的，所使用的液态金属离子源一方面包含具有原子量≥１９０Ｕ的第一金属，另一方面包含具有原子量≤９０Ｕ的另一金...
该专利属于约恩－托福技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过约恩－托福技术有限公司授权不得商用。

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