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描述了一种用于探测基质（６）上的发光位点的探测系统（１００）。所述探测系统（１００）通常包括辐照单元（１０２），其用于产生至少一个激发辐照束以激发基质（６）上的发光位点。所述至少一个激发辐照束可以是多个激发辐照束。所述探测系统（１００）还包...
该专利属于皇家飞利浦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过皇家飞利浦电子股份有限公司授权不得商用。

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