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根据本发明，提供了一种用于光学颗粒测量仪器的检定和校准且被配置为是被至少部分地浸入样本流体中的标准介质悬浮体（１５０）。悬浮体（１５０）包括基本上为固态的外表面，该外表面包括沿着照明轴Ａ设置的第一末端（１５１）和第二末端（１５２）以及至少一...
该专利属于哈赫公司所有，仅供学习研究参考，未经过哈赫公司授权不得商用。

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